IEC 60747-5-3-2009 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測(cè)試方法 W
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2021-07-30
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測(cè)試方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：Discrete semiconductor devices and integrated circuits ?Part 5-3: Optoelectronic devices ?Measuring methods Dispositifs discrets ?semiconducteurs et circuits intégrés ?Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques ?Méthodes de mesure Edition 1.1; Consolidat
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：W
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布日期：2009-11-01
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：31.260%31.080.99
部分代替標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60747-5-3-1997
被以下標(biāo)準(zhǔn)代替：部分被IEC 60747-5-4-2006代替%部分被IEC 60747-5-5-2007代替%部分被IEC 60747-5-6-2016代替%部分被IEC 60747-5-7-2016代替
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