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GB/T 20726-2006 半導體探測器X射線能譜儀通則

作者：百檢網時間：2021-07-31

標準號：GB/T 20726-2006
中文標準名稱：半導體探測器X射線能譜儀通則
英文標準名稱：Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
標準類型：N33
發(fā)布日期：2006/12/25 12:00:00
實施日期：2007/8/1 12:00:00
中國標準分類號：N33
國際標準分類號：71.040.99
適用范圍：本標準規(guī)定了表征以半導體探測器、前置放大器和信號處理系統(tǒng)為基本構成的X射線能譜儀（EDS）特性*重要的量值。本標準僅適用于國態(tài)電離作用原理的半導體探測器EDS。本標準只規(guī)定了與電子探針（EPMA）或掃描電鏡（SEM）聯(lián)用的此類EDS的*低要求，至于如何實現(xiàn)分析則不在本標準的規(guī)定范圍之內。

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