KS C IEC 60749-14-2006 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第14部分:終端裝置的堅固性(引線牢固性)
作者：百檢網 時間：2021-08-02
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第14部分:終端裝置的堅固性(引線牢固性)
英文標準名稱：Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 14：Robustness of terminations(lead integrity)
標準類型：L40
發布日期：2006/11/30 12:00:00
實施日期：2006/11/30 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
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