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IEC 60749-16-2003 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第16部分:粒子沖擊噪聲探測(PIND)

作者：百檢網時間：2021-08-02

標準號：IEC 60749-16-2003
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第16部分:粒子沖擊噪聲探測(PIND)
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).

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