IEC 60749-1-2002 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第1部分:總則
作者：百檢網 時間：2021-08-02
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第1部分:總則
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：This part of IEC 60749 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series.In the case of contradiction between this standard and a relevant procurement specification, the latter should govern.
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