ASTM F391-1996 通過測量穩態硅表面光致電壓確定非本征半導體中少數載流子擴散長度的標準試驗方法
作者：百檢網 時間：2021-08-02
中文標準名稱：通過測量穩態硅表面光致電壓確定非本征半導體中少數載流子擴散長度的標準試驗方法
英文標準名稱：Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage
標準類型：H81
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：H81
國際標準分類號：29.045 (Semiconducting materials)
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