ASTM F1262M-1995(2008) 數字集成電路瞬態輻射破壞閾試驗標準指南(米制單位)
作者：百檢網 時間：2021-08-02
中文標準名稱：數字集成電路瞬態輻射破壞閾試驗標準指南(米制單位)
英文標準名稱：Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
標準類型：L56
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：031.200
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