標準號:ASTM E431-1996
中文標準名稱:半導體器件及有關器件的X射線照片說明的標準指南
英文標準名稱:Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
標準類型:L40
發布日期:1999/12/31 12:00:00
實施日期:1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號:L40
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