ISO 9220-1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
作者：百檢網 時間：2021-08-03
中文標準名稱：金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
英文標準名稱：Metallic coatings; measurement of coating thickness; scanning electron microscope method
標準類型：A29
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1988/10/1 12:00:00
中國標準分類號：A29
國際標準分類號：17.040.20
適用范圍：Specifies a method for the measurement of the local thickness of metallic coatings by examination of cross-section with a scanning electron microscope. It is destructive and has an uncertainty of less than 10 % or 0,1 /um, whichever is greater. It can be used for thicknesses up to several millimetres, but it is usually more practical to use a ligth microscope (ISO 1463). Annex a gives the preparation of cross-sections.
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