ASTM E1162-1987(2001) 二次離子質譜法(SIMS)中報告濺射深度截面數據
作者：百檢網 時間：2021-08-03
中文標準名稱：二次離子質譜法(SIMS)中報告濺射深度截面數據
英文標準名稱：Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
標準類型：N34
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：N34
國際標準分類號：71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)
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