NF C96-051-2006 金屬氧化半導體場效應晶體管(MOSFET)的基本溫度穩定性試驗
作者：百檢網 時間：2021-08-04
中文標準名稱：金屬氧化半導體場效應晶體管(MOSFET)的基本溫度穩定性試驗
英文標準名稱：Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
標準類型：L42
發布日期：2006/10/1 12:00:00
實施日期：2006/10/20 12:00:00
中國標準分類號：L42
國際標準分類號：31.080.30
相關標準
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