IEC 60748-23-2-2002 半導體器件.集成電路.第23-2部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.內部審查和特殊試驗
作者：百檢網 時間：2021-08-04
中文標準名稱：半導體器件.集成電路.第23-2部分:混合集成電路和薄膜結構.生產線認證.內部審查和特殊試驗
英文標準名稱：Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-2: Hybrid integrated circuits and film structures; Manufacturing line certification; Internal visual inspection and special tests
標準類型：L55
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L55
國際標準分類號：31.200
適用范圍：Applies to high quality approval systems for hybrid integrated circuits and film structures. The purpose of the tests is to perform visual inspections on the internal materials, construction and workmanship of hybrid, multichip and multichip module micro
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