20204892-T-469 半導體單晶晶體質量的測試 X射線衍射法 正在起草
作者：百檢網 時間：2021-08-05
中文標準名稱：半導體單晶晶體質量的測試 X射線衍射法
英文標準名稱：Test method for crystalline quality of semiconductor single crystal —— X-ray diffraction method
標準狀態：正在起草
標準類型：國標計劃
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
國際標準分類號：77.040
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：中國電子科技集團公司第四十六研究所
相近標準： ?半導體單晶晶體質量的測試 X射線衍射法; ?半導體單晶晶向測定方法;20065620-T-469 ?半導體單晶晶向測定方法
標準制修訂：制訂
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