SJ/T 11706-2018 半導體集成電路 現場可編程門陣列測試方法 現行
作者：百檢網 時間：2021-08-05
中文標準名稱：半導體集成電路 現場可編程門陣列測試方法
標準狀態：現行
標準類型：行業標準
發布日期：2018/2/9 12:00:00
實施日期：2018/4/1 12:00:00
中國標準分類號：上海復旦微電子集團股份有限公司
國際標準分類號：31.2
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會集成電路分技術委員會
主管部門：工業和信息化部
起草單位：中國電子技術標準化研究院
起草人：胡海濤
相近標準：SJ/T 10607-1994 ?半導體集成電路門陣列設計總則; ?半導體集成電路 霍爾電路測試方法;20192064-T-33
行業分類：信息傳輸、軟件和信息技術服務業
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