ASTM F76-2008(2016) 測量電阻率和霍爾系數(shù)和測定單晶半導(dǎo)體中霍爾遷移率的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-08-05
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：測量電阻率和霍爾系數(shù)和測定單晶半導(dǎo)體中霍爾遷移率的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors
發(fā)布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：29.045
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