SIS SS IEC 340-1981 核檢測(cè)儀表．電離輻射半導(dǎo)體檢測(cè)器用放大器和前置放大器測(cè)試程序
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2021-08-05
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：核檢測(cè)儀表．電離輻射半導(dǎo)體檢測(cè)器用放大器和前置放大器測(cè)試程序
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Nuclear instrumentation — Test procedures for amplifiers and preamplifiers for semiconductor detectors for ionizing radiation
發(fā)布日期：1981/9/15 12:00:00
實(shí)施日期：1999/12/31 12:00:00
適用范圍：These test procedures apply to amplifiers and preamplifiers for semiconductor detectors for ionizing radiation. Test procedures for associated detectors are described in IEC Publication 333, Test Procedures for Semiconductor Detectors for Ionizing Radiation, and IEC Publication 430, Test Procedures for Germanium Gamma-ray Detectors. This publication supersedes IEC Publications 340, First Edition (1970) and 340A (1974).
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