SY/T 7086-2016 半導體器件10KeV低能X射線總劑量輻照試驗方法 現(xiàn)行
作者：百檢網 時間：2021-08-06
中文標準名稱：半導體器件10KeV低能X射線總劑量輻照試驗方法
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
標準類型：行業(yè)標準
發(fā)布日期：2016/1/15 12:00:00
實施日期：2016/6/1 12:00:00
中國標準分類號：恩云飛
國際標準分類號：31.080.01
歸口單位：工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標準化研究院
主管部門：工業(yè)和信息化部
起草單位：工業(yè)和信息化部電子第五研究所
起草人：何玉娟
相近標準：20201546-T-339 ?半導體器件 機械與氣候試驗方法 第44部分：半導體器件的中子輻照單粒子效應（SEE）試驗方法;
行業(yè)分類：無
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