20121267-T-469 用柵控和非柵控二極管的電壓電容關系測定硅外延層中凈載流子濃度的方法 已發布
作者：百檢網 時間：2021-08-06
中文標準名稱：用柵控和非柵控二*管的電壓電容關系測定硅外延層中凈載流子濃度的方法
英文標準名稱：Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
標準狀態：已發布
標準類型：國家標準
發布日期：2013/12/31 12:00:00
實施日期：2014/8/15 12:00:00
中國標準分類號：中國電子科技集團公司第四十六研究所
國際標準分類號：29.045
歸口單位：工業和信息化部（電子）
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：信息產業部專用材料質量監督檢驗中心
起草人：董顏輝
相近標準： ;GB/T 14863-1993 ;20063926-T-339 ?用柵控和非柵控二*管
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