DB61/T 362-2016 表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序 現行
作者：百檢網 時間：2021-08-06
中文標準名稱：表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序
英文標準名稱：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
標準狀態：現行
標準類型：國家標準
發布日期：2016/2/24 12:00:00
實施日期：2017/1/1 12:00:00
中國標準分類號：中山大學
國際標準分類號：71.040.40
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：清華大學
起草人：曹立禮
相近標準：20110878-T-469 ?表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序;GB/T 30704-2014 ?表面化學分
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