GB/T 15651.3-2003 半導體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件 測試方法 現行
作者：百檢網 時間：2021-08-06
中文標準名稱：半導體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件 測試方法
英文標準名稱：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
標準狀態：現行
標準類型：國家標準
發布日期：2003/11/24 12:00:00
實施日期：2004/8/1 12:00:00
中國標準分類號：L50
國際標準分類號：31.260
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：華禹光谷股份有限公司半導體廠
相近標準：GB/T 15651-1995 ?半導體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件;GB/T 15651.2-2003
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