GB/T 19403.1-2003 半導體器件 集成電路 第11部分:第1篇:半導體集成電路 內部目檢 (不包括混合電路) 現行
作者：百檢網 時間：2021-08-06
中文標準名稱：半導體器件 集成電路 第11部分:第1篇:半導體集成電路 內部目檢 (不包括混合電路)
英文標準名稱：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
標準狀態：現行
標準類型：國家標準
發布日期：2003/11/24 12:00:00
實施日期：2004/8/1 12:00:00
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：31.200
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：信息產業部第四研究所
相近標準：20030158-T-339 ?半導體器件 集成電路 第11部分：半導體集成電路分規范(不包括混合電路);GB/T 1275
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