GB/T 1555-2009 GB/T 1555-2009 半導體單晶晶向測定方法
作者：百檢網 時間：2021-08-19
中文標準名稱：GB/T 1555-2009 半導體單晶晶向測定方法
英文標準名稱：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
發(fā)布日期：2009-10-30
實施日期：2010-06-01
中國標準分類號：H80
國際標準分類號：29.045
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