IEC 60749-9-2017 IEC 60749-9-2017 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第9部分:標記的永久性
作者：百檢網 時間：2021-08-19
中文標準名稱：IEC 60749-9-2017 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第9部分:標記的永久性
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
發布日期：2017-03
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
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