標(biāo)準(zhǔn)號(hào):IEC 60749-35-2006
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):IEC 60749-35-2006 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第35部分:塑封電子器件的超聲顯微檢測(cè)方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
發(fā)布日期:2006-07
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào):L40
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào):31.080.01
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