晶片襯底檢測去哪里做?百檢網檢測實驗室可對各類晶片襯底檢測，出具第三方晶片襯底檢測報告。

樣品類型

　　硅片(Silicon Wafers)，銻化鎵(GaSb Wafers)，磷化銦(InP Wafers)，鍺(Ge Wafers)，砷化銦(InAs Wafers)，銻化銦(InSb Wafers)，鈦酸鍶(SrTiO3)，AXT砷化鎵(GaAs Wafers)等。

檢測指標

　　質量檢測等。

檢測標準

　　GB/T 24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

　　GB/T 26071-2018太陽能電池用硅單晶片

　　T/IAWBS 013-2019半絕緣碳化硅單晶片電阻率非接觸測量方法

　　YS/T 679-2018非本征半導體中少數載流子擴散長度的測試 表面光電壓法

百檢網檢測特色

　　1、百檢網是集體所有制檢驗中心，實驗室研發及質量檢驗時間短,花費低,實驗方案完備，出具的檢驗報告科學、公正、準確。

　　2、百檢網國內多所實驗室分支，支持國內上門取樣/寄樣檢測!

　　3、實驗精確度高百檢網具備認可的科研成果檢測資格，檢驗報告可以通過國內二維碼防偽系統查詢真偽。

　　4、百檢網具有**的檢測儀器,各種檢測儀器及設備300百多臺套。

　　5、百檢網資質百檢網具有計量認證(CMA)，資質齊全，有保障，出具規范的檢驗報告

　　6、支持36種語言編寫MSDS服務。

　　7、所有實驗都簽訂保密協議，注重保護客戶隱私。

　　8、百檢網與眾多企業，高校，科研院所等保持合作關系，以科學研究為己任，不斷提高自身檢測水平，致力于搭建覆蓋全國，服務全球的檢測分析平臺。

晶片襯底測定流程

　　1、郵寄寄樣或上門取樣

　　2、工程師初步檢測

　　3、根據試驗復雜程度及樣品數量報價

　　4、雙方確定簽訂保密協議，實驗室開始實驗

　　5、完成實驗：檢測周期一般在7-15個工作日(部分特殊試驗周期會延長)，可咨詢工程師

　　6、出具檢驗報告，后期服務。