作者:百檢網 時間:2021-09-15 來源:互聯網
AFM分析去哪里做?原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope ,AFM),一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。
原子力顯微鏡為掃描探針顯微鏡家族的一員,具有納米級的分辨能力,其操作容易簡便,是目前研究納米科技和材料分析的*重要的工具之一。原子力顯微鏡是利用探針和樣品間原子作用力的關系來得知樣品的表面形貌。
1GB/T 27760-2011利用Si(111)晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
2GB/T 28872-2012活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
3GB/T 31227-2014原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法
4GB/T 32189-2015氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法
5GB/T 32262-2015用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
1、百檢網AFM分析中心資質齊全,CMA資質認證的第三方檢測機構。
2、數據準確,博士團隊,歐美進口檢測設備,保證了數據的準確性。
3、研究所檢測報告支持二維碼查詢真偽。
4,全國多家分支機構,支持上門取樣,免費初檢。
5,售后服務,相關工程師一對一服務。
6,可出具中英文檢測報告,及msds報告編寫服務。
1、前期咨詢
2、郵寄AFM分析樣品或上門取樣。
3、工程師報價
4、支付檢測費用,開展實驗。
5、完成實驗,出具檢測報告。
6、郵寄檢測報告,售后服務。
1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
①本網注名來源于“互聯網”的所有作品,版權歸原作者或者來源機構所有,如果有涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一個月內與本網聯系,聯系郵箱service@baijiantest.com,否則視為默認百檢網有權進行轉載。
②本網注名來源于“百檢網”的所有作品,版權歸百檢網所有,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。想要轉載本網作品,請聯系:service@baijiantest.com。已獲本網授權的作品,應在授權范圍內使用,并注明"來源:百檢網"。違者本網將追究相關法律責任。
③本網所載作品僅代表作者獨立觀點,不代表百檢立場,用戶需作出獨立判斷,如有異議或投訴,請聯系service@baijiantest.com