二次離子質譜分析去哪里做?通過二次離子質譜的深度剖析來分析材料薄膜結構是一種獨特的分析手段，尤其是對于分析不同薄層中的材料，以及相鄰兩層之間材料的相互影響。

檢測范圍

　　通過質譜圖可以用來獲取樣品表面的分子、元素及同位素的信息，可以探測化學元素或化合物在樣品表面和內部的分布，也可以用于生物組織和細胞表面或內部化學成分的成像分析，配合樣品表面掃描和剝離(濺射剝離速度可以達到10微米/小時)，還可以得到樣品表層或內部化學成分的三維圖像。

檢測標準

　　1GB/T 20176-2006表面化學分析 二次離子質譜 用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度

　　2GB/T 22572-2008表面化學分析 二次離子質譜 用多δ層參考物質評估深度分辨參數的方法

　　3GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質譜檢測方法

　　4GB/T 24580-2009重摻n型硅襯底中硼沾污的二次離子質譜檢測方法

　　5GB/T 25186-2010表面化學分析 二次離子質譜 由離子注入參考物質確定相對靈敏度因子

　　6GB/T 29851-2013光伏電池用硅材料中B、Al受主雜質含量的二次離子質譜測量方法

　　7GB/T 29852-2013光伏電池用硅材料中P、As、Sb施主雜質含量的二次離子質譜測量方法

　　8GB/T 32281-2015太陽能級硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的測定 二次離子質譜法

　　9GB/T 32495-2016表面化學分析二次離子質譜硅中砷的深度剖析方法

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二次離子質譜流程

　　1、前期咨詢

　　2、郵寄二次離子質譜樣品或上門取樣。

　　3、工程師報價

　　4、支付檢測費用，開展實驗。

　　5、完成實驗，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，售后服務。