透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM)，是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。

檢測項目

　　透射電鏡作為材料表征的重要手段，不僅可以用衍射模式來研究晶體的結構，還可以在成像模式下得到實空間的高分辨像，即對材料中的原子進行直接成像，直接觀察材料的微觀結構。

檢測標準

　　GB/T 28044-2011納米材料生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法通則

　　5GB/T 33839-2017基于生物效應含碳基納米材料生物樣品的透射電子顯微鏡檢測方法

　　6GB/T 34002-2017微束分析 透射電子顯微術 用周期結構標準物質校準圖像放大倍率的方法

　　7GB/T 34168-2017金、銀納米顆粒材料生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法

　　8GB/T 35098-2018微束分析 透射電子顯微術 植物病毒形態學的透射電子顯微鏡鑒定方法

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透射電鏡檢測流程

　　1、前期咨詢

　　2、郵寄透射電鏡樣品或上門取樣。

　　3、工程師報價

　　4、支付檢測費用，開展實驗。

　　5、完成實驗，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，售后服務。