使用一次脈沖離子轟擊固體材料表面，通過表面激發出的二次離子的飛行時間測量其質量，以表征材料表面的元素成分、分子結構、分子鍵接等信息。

檢測范圍

　　分析所有的導體、半導體、絕緣材料;對于材料/產品表面成分及分布，表面添加組分、雜質組分、表面多層結構/鍍膜成分、表面異物殘留(污染物、顆粒物、腐蝕物等)、表面痕量摻雜、表面改性、表面缺陷(劃痕、凸起)等有很好的表征能力。

檢測標準

　　1ASTM E2695-2009用飛行時間二次離子質譜儀得到的質譜數據的闡述指南

　　2ISO 13084-2011表面化學分析 二次離子質譜 飛行時間二次離子質譜用質量標度的校準

　　3ISO DIS 13084-2010表面化學分析 二次離子質譜 飛行時間二次離子質譜用質量標度的校準

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飛行時間二次離子質譜流程

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　　3、工程師報價

　　4、支付檢測費用，開展實驗。

　　5、完成實驗，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，售后服務。