電子探針X射線顯微分析(簡稱電子探針顯微分析)(Electron Probe Microanalysis，簡稱EPMA)是一種顯微分析和成分分析相結(jié)合的微區(qū)分析，它特別適用于分析試樣中微小區(qū)域的化學(xué)成分，因而是研究材料組織結(jié)構(gòu)和元素分布狀態(tài)的*為有用的分析方法。

檢測范圍

　　1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析.

　　2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分鑒定.

　　3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測.

　　4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領(lǐng)域.

　　5、進行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

　　1GB 4930-1985電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件

　　2GB/T 4930-1993電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件

　　3GB/T 4930-2008微束分析 電子探針分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

　　4GB/T 15075-1994電子探針分析儀的檢測方法

　　5GB/T 17366-1998礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法

　　6GB/T 17506-1998船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法

　　7GB/T 17506-2008船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法

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電子探針分析流程

　　1、前期咨詢

　　2、郵寄電子探針分析樣品或上門取樣。

　　3、工程師報價

　　4、支付檢測費用，開展實驗。

　　5、完成實驗，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，售后服務(wù)。