作者:百檢網 時間:2021-09-15 來源:互聯網
sims分析去哪里做?利用D-SIMS可以快速了解產品中異物成分、對微量雜質進行全元素分析、對于多層結構進行深度分析。速度快、結果準、效率高。
提供位于固體樣品表面上的非常小體積的元素和同位素分析。
**STM E1438-2011用次級離子質譜法(SIMS)測量深度摻雜分布界面寬度標準指南
6ASTM E1504-2011次級離子質譜法(SIMS)中質譜數據報告的標準實施規程
7ASTM E1505-1992(1996)離子移植外標物中SIMS相關靈敏度因數測定指南
8ASTM E1505-1992(2001)離子移植外標物中SIMS相關靈敏度因數測定指南
9ASTM E1880-1997用次級離子質譜法(SIMS)對組織低溫部分分析規程
10ASTM E1880-1997(2002)用次級離子質譜法(SIMS)對組織低溫部分分析規程
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