高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析JEM2100F
1. 獲得納米材料，金屬材料，陶瓷材料的微觀形貌，孔隙情況，樣品顆粒大小等；
2. 獲得材料的高分辨數據，晶格條紋，獲取晶體學參數；
3. 獲得材料衍射花紋，判斷材料晶體學參數；
4. 得到材料EDS信號，表征材料元素分布，半定量分析材料元素含量等，可進行面掃，點掃，線掃等方式；
高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析主要技術指標：
1、點分辨率：0.25nm；線分辨率：0.102nm；STEM分辨率：0.20nm
2、加速電壓：80，100，160，200KV
3、傾斜角（X/Y）：±42/±30°；
4、配備德國Bruker公司XFlash 5030T型X射線能譜儀
應用范圍：
1.應用于材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體、納米技術等領域的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析；
2.各種材料微區化學成分的定性和半定量檢測；
3.粉末、納米粒子形態和粒度測定；
4.復合材料界面特性的研究。
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