高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析JEM2100F
1. 獲得納米材料,金屬材料,陶瓷材料的微觀形貌,孔隙情況,樣品顆粒大小等;
2. 獲得材料的高分辨數(shù)據(jù),晶格條紋,獲取晶體學參數(shù);
3. 獲得材料衍射花紋,判斷材料晶體學參數(shù);
4. 得到材料EDS信號,表征材料元素分布,半定量分析材料元素含量等,可進行面掃,點掃,線掃等方式;
高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析主要技術指標:
1、點分辨率:0.25nm;線分辨率:0.102nm;STEM分辨率:0.20nm
2、加速電壓:80,100,160,200KV
3、傾斜角(X/Y):±42/±30°;
4、配備德國Bruker公司XFlash 5030T型X射線能譜儀
應用范圍:
1.應用于材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體、納米技術等領域的顯微形貌、晶體結(jié)構和相組織的觀察與分析;
2.各種材料微區(qū)化學成分的定性和半定量檢測;
3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測定;
4.復合材料界面特性的研究。
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