薄膜厚度測量

我們測量什么?

材料要求:

全都是至少有部分透明的薄膜，?加上所有的半導體?(透明或不透明)。薄膜在外觀上至少要有某種程度的光澤。

厚度范圍:?

我們能測量從?3nm 到500um 的厚度。能夠測量 70nm 到10um 厚薄膜的折射率。

可測量的層數:?

我們通常能夠測量某個薄膜堆內的*多三層獨立薄膜。?在某些情況下，我們能夠測量到幾十層。

基板材料:?

如果薄膜位于粗糙基板?(其中包括大多數金屬) 上的話， 一般不能測量薄膜的折射率。 此外，粗糙基板還將*低的可測量薄膜厚度限制為大約50nm。

所需的信息:?

我們必須知道目前存在所有薄膜的種類、特征和預估厚度，?

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l?以上要求和標準僅供參考，具體測量建議來電和我們專業工程師直接交流。

Filmetrics測試應用：

（1）?加硬膜的厚度測量

（2）?加硬膜、滲透層的厚度測量

（3）?防霧層的厚度測量