EN 61326-1：2013性能標(biāo)準(zhǔn)：

性能標(biāo)準(zhǔn)A和B中定義的**部分在EN 61326-1中保持不變.然而，2013年版本增加了一個與“可允許的性能損失”相關(guān)的部分。如果制造商沒有確定*低性能水平或允許的性能損失，用戶可以從設(shè)備或產(chǎn)品文檔的合理期望中推斷出這些損失。換句話說，一個產(chǎn)品的功能仍然可以通過2006年版本中指定的用戶干預(yù)來恢復(fù)--這個版本只是有額外的語句來澄清。

EN 61326-1：2013排放量：

2006年版本引用CISPR 11：2003，2013年版本引用CISPR 11：2009+A1：2010。對CISPR 11：2009的**項修正規(guī)定了“小型設(shè)備”3米測試距離的替代輻射排放限制，其中“小型設(shè)備”被定義為適合于地面以上1.5米、直徑1.2米的圓柱形測試體積的設(shè)備。

基本環(huán)境中的免疫

靜電放電試驗水平從61636~2006年的4kV接觸放電和4kV空氣放電提高到61326~2013年的4kV接觸放電和8kV空氣放電。這一變化是為了使標(biāo)準(zhǔn)更接近于非實(shí)驗室環(huán)境。

對于磁敏設(shè)備，en 61326-1：2013增加了對工頻磁抗擾度的新要求(iec 61000-4-8)，測試級別為3A/m。受影響的設(shè)備類型包括霍爾效應(yīng)傳感器和磁繼電器。

工業(yè)環(huán)境豁免

現(xiàn)在，2013年版本中的每一個項目都有明確2006年標(biāo)準(zhǔn)的業(yè)績標(biāo)準(zhǔn)。沒有進(jìn)行任何其他修改，使本節(jié)基本上保持不變。

受控電磁環(huán)境的免疫力

EN 61326：2006有一個名為“測量I/O”的端口類別，允許制造商定義測試級別(即沒有強(qiáng)制測試級別)，并在產(chǎn)品文檔中說明EUT測試的級別。在EN 61326：2013中，此端口類別已被刪除。因此，以前屬于“測量I/O”類別的端口現(xiàn)在屬于其余的“I/O信號/控制”類別，即所需的測試級別由標(biāo)準(zhǔn)確定，而不是由制造商自行決定。

便攜式測試設(shè)備的抗干擾性

對于磁敏設(shè)備，en 61326-1：2013增加了一項新的要求，要求電源頻率抗磁能力(iec 61000-4-8)在3A/m的測試水平上。它還允許crt顯示干擾大于1A/m。

這如何影響現(xiàn)有和新的測試程序

我們一直在測試這一*新標(biāo)準(zhǔn)，所有報告都將發(fā)布給EN 61326-1：2013版本的標(biāo)準(zhǔn)。

希望將產(chǎn)品更新到2013年版本的客戶可以根據(jù)需要進(jìn)行適用的測試。一旦滿足了額外的測試要求，報告就可以重新發(fā)布，以反映2013年版本。

盡管在EN 61326-2：2013中增加了新的磁抗擾性要求，但在大多數(shù)情況下，磁抗擾性測試仍然不需要，因為只需要對含有固有受磁場影響的元件的設(shè)備進(jìn)行測試。

EN 61326-2006年對2013年

EN 61326-1：2013年包括了一些制造商不應(yīng)忽視的關(guān)鍵變化。它還澄清了2006年版本中提到的許多標(biāo)準(zhǔn)。制造商目前應(yīng)該對EN 61326-1：2013版本的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試。使用2006年的指南現(xiàn)在被認(rèn)為是不符合規(guī)定的，產(chǎn)品必須遵守EN 61326-1才能運(yùn)往歐洲。

為進(jìn)一步澄清這些變化或要求按照EN 61326-1：2013標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試，在線聯(lián)系我們...我們的團(tuán)隊將與您聯(lián)系，討論您的產(chǎn)品所需的測試，以及我們?nèi)绾翁峁┮粋€全面的解決方案。