作者:百檢網(wǎng) 時間:2021-11-11 來源:互聯(lián)網(wǎng)
冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡是對樣品表面形貌進行測試的一種大型儀器。通過樣品中的電子激發(fā)出的各種信號,掃描電鏡可以做出電子圖像分析,如可利用二次電子進行樣品表面形貌及結(jié)構(gòu)分析的分析;以兩片探測器信號做積分運算,通過背散射電子可以分析樣品表面成分圖像,以兩片探測器信號做微分運算時,則可用于樣品表面形貌圖像的分析;此外,通過透射電子則可對析晶體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及晶格信息進行分析。
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上一篇《掃描電鏡》
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