作者:百檢網 時間:2021-11-11 來源:互聯網
1.電子束系統分辨率:0.9nm(15kv)/1.4nm(1kv) 2.離子束系統分辨率:在束交叉點:4.5nm@30kV(統計測量法) 在束交叉點:2.5nm@30kV(單邊測量法) 3.電子束加速電壓:350V-30kV 4.離子束加速電壓:0.5-30kV 5.電子束流:≤22nA 6.離子束流:1pA ?C 65nA
納米級加工及觀測研究。
1. 截面樣品加工; 2. 截面或平面TEM樣品的制備; 3. 利用FIB進行各種材料的APT樣品制備; 4. SEM里面的拉伸以及微納米柱子樣品制備,TEM里面的拉伸以及納米柱子樣品制備; 5. TEM 里面的加熱以及電性測試樣品制備,如兼容DENS,Protochips樣品桿的TEM樣品; 6. 利用FIB進行復雜圖形的加工,以及小尺寸納米結構的加工 7. 透射EBSD樣品制備(TKD),特別是10nm的晶粒的樣品
2000
1. 實驗前請與老師電話或是郵件溝通; 2. 樣品務必保持清潔。
1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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