可完成以下幾種模式的測量： 1．接觸模式 (Contact Mode) 2. 輕敲模式 (AC Mode) - 擁有Q-control控制技術 3. 力曲線/力譜測量（Force） 4. 雙頻共振輕敲模式（Dual AC Mode） 5. 壓電力顯微鏡(Piezoresponse force Microscopy, PFM) 6. 靜電力顯微鏡(Electric Force Microscopy, EFM) 7. 磁場力顯微技術(Magnetic Force Microscopy, MFM) 8. 表面電勢測量 (Surface Potential) 分辨率滿足： 1.XY軸閉環分辨率Closed Loop Sensor Noise<60pm，Z軸分辨率Closed Loop Sensor Noise<50pm; 2.XY軸開環噪聲水平Open Loop Noise< 8pm，Z軸開環噪聲水平Open Loop Noise< 4pm 3.光學探測噪音DC Detector Noise: <5pm 4.AC探測噪音AC Detector Noise: < 25fm/√Hz above 100kHz 5.DC高度噪音DC Height Noise: < 15pm 6.AC高度噪音AC Height Noise: < 15pm

該設備不僅能對表面形貌成像，同時還具備靜電力顯微鏡、磁力顯微鏡、表面電勢測量等功能。特別是進行壓電力顯微鏡測試，可得到相應區域納米尺度的鐵電疇信息，還能通過探針對樣品施加應力和電場對鐵電疇進行精確的控制操作，并且通過相關軟件的控制能夠實時的記錄鐵電疇在外加電場作用下的運動軌跡，實現鐵電疇運動的動態觀察。