服務(wù)領(lǐng)域： 分析樣品的微觀結(jié)構(gòu),具有高真空、低真空和ESEM？環(huán)境真空三種真空模式，適合分析*廣泛的樣品范圍，從傳統(tǒng)的金屬材料、斷口和拋光斷面，到不導(dǎo)電的軟物質(zhì)。電鏡還可作為一個(gè)微觀實(shí)驗(yàn)室。安裝特殊的原位樣品臺后，在從- 165 oC到1500oC溫度范圍內(nèi)，對多種樣品保持其原始狀態(tài)下進(jìn)行動(dòng)態(tài)原位分析。 技術(shù)指標(biāo)： （1）Quanta 250可用于不同的真空模式以分析導(dǎo)電及不導(dǎo)電樣品并同時(shí)收集表征表面形貌和元素襯度信息的二次電子像和背散射像； （2）*大程度降低樣品制備：低真空/環(huán)境掃描可確保對不導(dǎo)電樣品及含水樣品進(jìn)行無表面荷電的成像和分析； （3）高真空模式圖像分辨率為：二次電子像3.0nm@30kV, 8.0nm@3kV, 及背散射電子像4nm@30kV； （4）低真空模式圖像分辨率為：二次電子像3.0nm@30kV, 10nm@3kV, 及背散射電子像4.0nm@30kV （低真空下低加速電壓性能保證了對不導(dǎo)電的細(xì)小顆粒在不改變其表面真實(shí)形貌的成像）； （5）在環(huán)境掃描模式下樣品室內(nèi)氣壓可達(dá)4000Pa，其圖像分辨率為二次電子像3.0nm@30kV。 生產(chǎn)廠商： FEI公司 儀器國別： 啟用時(shí)間： 2011-07-13 儀器認(rèn)證： 企業(yè)出廠認(rèn)證 安放地點(diǎn)： 主要用途： 主要附件及功能： ETD，LFD,BSED,ESEM