服務領域： 材料, 技術指標： 圖像分辨率： 高真空模式下 3.5nm； 低真空模式下 3.5nm； ESEM環境模式下3.5nm； 低真空低電壓（3kV）：15nm 加速電壓：200V～30 kV； 樣品室真空度： 6×10-4 Pa ～2600 Pa； 能譜儀分辨率：優于129eV 能譜分析元素范圍：Be4～U92 生產廠商： 荷蘭FEI公司、英國Oxford公司 儀器國別： 啟用時間： 2003-12-01 儀器認證： 自校 安放地點： 武漢市 青山區 冶金大道 28#武鋼技術中心 金相檢測實驗室 主要用途： 研究, 其他 主要附件及功能： ⑴在高真空模式下，用作導電性好的材料分析； ⑵在低真空模式下，用作導電性不好的材料分析； ⑶在環境掃描方式下，對含油、含水或有氣體釋放的材料等方面的分析