作者:百檢網 時間:2021-11-11 來源:互聯網
1.設備簡介:
JEM-ARM300F實現了世界*高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發的球差校正器,*高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界*高的STEM-HAADF像分辨率。
2.設備功能
JEM-ARM300F標配日本電子的12*球差校正器、高亮度冷場發射電子槍,TEM的保證分辨率為0.05nm, STEM HAADF的保證分辨率為0.063nm
3.附件
(1)EDS:高靈敏無窗SDD雙探頭;探測面積≥100mm2*2
(2)Gatan公司一體化CMOS相機及成像系統(OneView)
(3)Hysitron PI95
(4)Gatan公司EELS(分辨率:0.1eV at zero loss)
1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準;
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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