金屬元素測試
| 項目類別
| 元素
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重金屬元素鉛
| Pb、鉻Cr、汞Hg、砷As、鎘Cd、六價鉻Cr6+
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貴金屬元素
| 金、Au、銀Ag、鉑Pt、鋨Os、銥Ir、釕Ru、銠Rh、鈀Pd
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金屬元素
| 鋰Li、鈹Be、鈉Na、鎂Mg、鋁Al、鉀K、鈣Ca、鈧Sc、Ti、釩V、鉻Cr、錳Mn、鐵Fe、鈷Co、鎳Ni、銅Cu、鋅Zn、鎵Ga、鍺Ge、銣Rb、鍶Sr、釔Y、鋯Zr、鈮Nb、鉬Mo、銦In、錫Sn、銻Sb、碲Te、銫Cs、鋇Ba、鉿Hf、鎢W、錸Re、鉈Tl、鉍Bi、硒Se及其氧化物
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稀土金屬元素
| 鑭La、鈰Ce、鐠Pr、釹Nd、钷Pm、釤Sm、銪Eu、釓Gd、鋱Tb、鏑Dy、鈥Ho、鉺Er、銩Tm、鐿Yb、镥Lu、釔Y、鈧Sc及其氧化物、稀土總量
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金屬元素全掃
| XRF-X射線熒光光譜儀元素全掃測試，無損檢測
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非金屬元素測試
| 測試元素
| 測試方法/標準
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鹵素：氟F、氯Cl、溴Br、碘I
| 氧彈-IC、電位滴定 /BS EN 14582：2007
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碳C、氫H、氧O、氮N、硫S
| 氧氮分析儀、碳硫分析儀、有機元素分析儀
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硼B、硅Si、磷P
| 電感耦合等離子發射光譜儀ICP-OES 分光光度法UV-Vis
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陰陽離子測試
| 項目類別
| 元素
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常見陰離子
| 磷酸根離子PO43-、根離子HCOO-、醋酸根(乙酸根)離子Ac-、草酸根離子C2O42-、硝酸根NO3-、亞硝酸根離子NO2-、硫酸根離子SO42- 、氟離子F-、氯離子Cl-、溴離子Br-、碘離子I-
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常見陽離子
| 鈉離子Na+、鉀離子K+、鈣離子Ca2+、鎂離子Mg2+、銨根離子NH4+
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表面元素分析
對于樣品表面的一些化學信息較為關注時，會采用表面分析技術，目前表面分析涉及到的儀器有掃描電鏡-能譜儀(SEM-EDS)，X射線光電子能譜儀(XPS)，俄歇電子能譜儀(AES)等。掃描電鏡-能譜儀(SEM-EDS)可以對樣品表面形貌觀察，表面元素分析，截面形貌觀察，截面元素分析等，分析深度一般為微米(10-6m)級別。X射線光電子能譜儀(XPS)和俄歇電子能譜儀(AES)可對樣品進行表面元素分析，表面縱向元素分析，表面元素價態分辨，分析深度通常為納米(10-9m)級別。
同位素分析
| 同位素
| 測試儀器
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14C年代測定
| 加速質譜儀
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13C、15N、18O、D氚
| 穩定同位素質譜儀
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6LI、10B同位素
| 電感耦合等離子質譜儀
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放射性元素檢測
| 項目類別元素
| 天然放射性核素限量鐳-226，釷-232，鉀-40，鈾-238
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γ輻射劑量率
| /
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總輻射量
| /
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水質放射性
| 總α，總β
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檢測儀器
| 電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP-OES） | 電感耦合等離子體質譜ICP-MS |
| 波長型X射線熒光光譜儀（XRF） | 能量散射型X射線熒光光譜儀（EDX） |
| 有機元素分析儀 | 掃描電子顯微鏡X射線能譜儀(SEMEDS) |
| 紫外/可見光分光光度計（UV） | 原子吸收分光光度計（AAS） |
| 原子發射分光光度計（AES） | 離子色譜 |
| 直讀光譜儀 | CS分析儀 |
400-101-7153
15201733840
