作者:百檢網(wǎng) 時間:2021-11-22 來源:互聯(lián)網(wǎng)
概述
?一般來說為了評價
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? ? 常規(guī)電工電子設(shè)備環(huán)境試驗項目及檢測標準:
1.低溫試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T2423.1-2008,
2.高溫試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GB/T2423.2-2008 ,IEC60068-2-2:2007
3.恒定濕熱試驗 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012,IEC60068-2-67:1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006,IEC 60068-2-78:2001
4.交變濕熱試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T2423.4-2008,IEC 60068-2-30:2005
5.振動試驗?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008,IEC 60068-2-80:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006,IEC 60068-2-64:1993 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦) GB/T 2423.10-2008,IEC 60068-2-6:1995
6.溫度變化 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009
7.溫度/濕度組合循環(huán) 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012,IEC 60068-2-38:2009
8.跌落 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995,IEC 60068-2-32:1990
9.
10.碰撞 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ,IEC 60068-2-29:1987
11.傾跌與翻倒 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995,IEC 60068-2-31:1982
12.砂塵 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994
13.
14.溫度沖擊 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009
15.外殼防護 外殼防護等級(IP代碼) GB 4208-2008,IEC 60529:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008,IEC 60068-2-18:2000
16.低溫/振動(正弦)綜合試驗
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005,IEC 60068-2-50:1983
17.高溫/振動(正弦)綜合試驗
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005,IEC 60068-2-51:1983
18.溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 GB/T 2423.59-2008
19.(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合GB/T 2423.102-2008
20.可靠性試驗 設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案 GB/T 5080.7-1986,IEC 60605-7:1978 設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗 GB/T 5080.6-1996 ,IEC 60605-6:1989 設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案 GB/T 5080.5-1985 ,IEC 60605-5:1982 設(shè)備可靠性試驗 可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法 (指數(shù)分布) GB/T 5080.4-1985,IEC 60605-4:1978 可靠性試驗 第2部分:試驗周期設(shè)計 GB/T 5080.2-2012,IEC 60605-2:1994 可靠性試驗 第1部分:試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012,IEC 60300-3-5:2001
實驗室完全按照ISO/IEC17025:2005《檢測和
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