作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2021-12-06 來源:互聯(lián)網(wǎng)
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日本日立 SU8010?? 冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM+EDS)
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主要配置:
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能譜儀(EDS);離子濺射儀(Au-Pd靶)等
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主要用途:
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用于有機(jī)和無機(jī)材料的微觀形貌結(jié)構(gòu)的研究,通過觀察微觀形貌以及元素的含量來控制樣品的質(zhì)量。
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主要技術(shù)指標(biāo):
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分辨率:0.3nm;
加速電壓:0.1 ~ 30kV (0.1KV);
具有高位和低位二次電子探測(cè)器;
樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng):3軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)(包含 兩軸手動(dòng));
物鏡光闌: 4孔可調(diào)式,內(nèi)置加熱自清潔裝置
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主要學(xué)科領(lǐng)域:
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材料科學(xué),礦山工程技術(shù),能源科學(xué)技術(shù),航空、航天科學(xué)技術(shù)
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服務(wù)技術(shù)領(lǐng)域:
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新材料及生產(chǎn)工藝和設(shè)備,納米材料,其他
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