作者:百檢網 時間:2021-12-06 來源:互聯網
XRF 用 X光照射待分析樣品,樣品中的元素內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發的電子返回基態的時候,會放射出特征 X 光;不同的元素會放射出各自的特征 X 光,具有不同的能量或波長特性。
儀器技術參數
X射線管靶: 銠靶(Rh),X射線管壓: 60kv(Max), X射線管壓: 150mA(Max)
檢測元素范圍:4Be~92U,檢測濃度范圍:10-6~****, *小分析微區:直徑250μm
*大掃描速度:300º/min
送樣要求
固體粉末:均勻干燥,粒度小于70um(過200目),質量不少于100 mg;
塊體、金屬及薄膜樣品:需加工出一平整的表面,尺寸約為20mm×10mm×2mm
應用領域
電子、磁性材料領域:用來研究半導體、磁光盤、磁性材料、電池、線路板、電容囂等;化學工業領域:可用來研究無機、有機制品、化學纖維 催化劑、涂料、顏料、藥品 、化妝品、洗滌劑、橡膠、調色劑等成分;鋼鐵、有色金屬領域:可用來研究和測定各種合金成分;陶瓷、水泥領域:可用來測定水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、巖石等;農業、食品工業中可用來檢測中土壤、肥料、植物、食品等。
常見適用標準
GBT 18043-2008 首飾 貴金屬含量的測定 X射線熒光光譜法
GBZ 21277-2007 電子電氣產品中限用物質鉛、汞、鉻、鎘和溴的快速篩選
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