北京GJB15601902607.10A-2009霉菌腐蝕測(cè)試試驗(yàn)?zāi)睦镒?/h1>
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2021-12-06 來(lái)源：互聯(lián)網(wǎng)
GJB152 0173 3840.10A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分:霉菌試驗(yàn)本部分規(guī)定了軍用裝備實(shí)驗(yàn)室霉菌試驗(yàn)的目的與應(yīng)用,剪裁指南,信息要求,試驗(yàn)要求,試驗(yàn)過(guò)程和結(jié)果分析的內(nèi)容.本部分適用于對(duì)軍用裝備進(jìn)行霉菌試驗(yàn).霉菌試驗(yàn)的目的在于評(píng)定裝備長(zhǎng)霉的程度以及長(zhǎng)霉對(duì)裝備性能或使用的影響程度.霉菌試驗(yàn)主要應(yīng)用于:1.確定裝備或組件是否長(zhǎng)霉;2.霉菌在裝備上的生長(zhǎng)速度;3.霉菌在裝備上生長(zhǎng)后對(duì)裝備及其任務(wù)完成和使用的安全性的影響;4.裝備能否在環(huán)境中有效的貯存;5.若有霉菌生長(zhǎng),有無(wú)簡(jiǎn)單去除方法;霉菌的產(chǎn)生對(duì)產(chǎn)品有哪些影響:1.對(duì)材料的直接侵蝕.非抗霉材料易受直接侵蝕,因?yàn)槊咕芊纸獠牧喜⑺麄冏鳛樽约旱酿B(yǎng)分.這就導(dǎo)致了裝備物理性能的裂化. 非抗霉材料有:天然材料和合成材料.2.對(duì)材料的間接侵蝕. 霉菌試驗(yàn)可使電氣和電子系統(tǒng)發(fā)生損壞,光學(xué)系統(tǒng)的損壞主要是由于間接侵蝕引起的,霉菌對(duì)光學(xué)系統(tǒng)中光的傳播能產(chǎn)生負(fù)面影響,阻塞精密活動(dòng)部位,使干燥表面變潮濕并伴隨性能的下降.試驗(yàn)時(shí)間的確定:一般試驗(yàn)的*短時(shí)間為28天,由于長(zhǎng)霉對(duì)試件產(chǎn)生的間接侵蝕和物理影響不可能在較短的試驗(yàn)時(shí)間內(nèi)出現(xiàn),如果要求在確定長(zhǎng)霉對(duì)試件的影響方面需要提高確定度或降低風(fēng)險(xiǎn)時(shí),則應(yīng)考慮試驗(yàn)時(shí)間延長(zhǎng)至84天.霉菌試驗(yàn)的菌種選擇:黑曲霉,土曲霉,宛氏擬青霉,郝綠青霉,短柄帚霉,綠色木霉,黃曲霉,雜色曲霉,筍狀青霉,球毛殼霉.黑曲霉.霉菌試驗(yàn)的評(píng)級(jí):0級(jí):材料無(wú)霉菌生長(zhǎng);1級(jí):分散,稀少或非常局限的霉菌生長(zhǎng);2級(jí):材料表面霉菌斷續(xù)蔓延或菌落松散分布,或整個(gè)表面有菌絲連續(xù)伸延,但霉菌下面的材料依然可見(jiàn).3級(jí):霉菌大量生長(zhǎng),材料可出現(xiàn)可視的結(jié)構(gòu)改變;4級(jí):厚重的霉菌生長(zhǎng);