作者:百檢網(wǎng) 時間:2021-12-06 來源:互聯(lián)網(wǎng)
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,人們的生活變得越來越便利。現(xiàn)下一些電子產(chǎn)品逐漸融入了人們的生活中,那么我們在進行電子產(chǎn)品設(shè)計的時候就需要進行一定的可行性分析,以及生產(chǎn)過程中的可靠行設(shè)計。換言之,可靠性設(shè)計就是在生產(chǎn)前期進行測試,通過實驗,總結(jié)出這件產(chǎn)品的質(zhì)量和可能遇到的問題??傊?,任何一件電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過程都要有可靠性設(shè)計以及可靠性測試的過程。鑒于此,本文是對電子產(chǎn)品的可靠性測試進行了分析,僅供參考。
可靠性試驗是為了確定已通過可靠性鑒定試驗而轉(zhuǎn)入批量生產(chǎn)的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下是否達到規(guī)定可靠性要求,驗證產(chǎn)品的可靠性是否隨批量生產(chǎn)期間工藝,工裝,工作流程,零部件質(zhì)量等因素的變化而降低。只有經(jīng)過這些,產(chǎn)品性能才是可以信任的,產(chǎn)品的質(zhì)量才是過硬的。
電子產(chǎn)品可靠性試驗?zāi)康耐ǔS腥缦聨追矫妫?/p>
1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性達到預(yù)定指標(biāo)的情況;
2、生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;
3、對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收;
4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理;
5、為改進產(chǎn)品可靠性,制定和改進可靠性試驗方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。
電子產(chǎn)品可靠性試驗的方法及分類
一、如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗;
二、以試驗項目劃分,可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗;
三、若按試驗?zāi)康膩韯澐?,則可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗;
四、若按試驗性質(zhì)來劃分,也可分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類。
對電子元件常用的環(huán)境試驗項目有:
氣候試驗:密封性試驗、溫度循環(huán)試驗、熱沖擊試驗、氣壓試驗、潮熱試驗、鹽霧試驗。
優(yōu)耐檢測環(huán)境可靠性項目包括:霉菌試驗,鹽霧腐蝕試驗,氣體腐蝕試驗,氙燈老化試驗,碳弧燈老化試驗,振動試驗,沖擊試驗,高低溫試驗,溫度沖擊試驗,高低氣壓試驗,耐久性試驗,三綜合試驗,溫濕度試驗,防塵防水試驗,溫度循環(huán)及沖擊等試驗。可完成國標(biāo)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國際標(biāo)準(zhǔn)、航空標(biāo)準(zhǔn)的試驗,通過國家CNAS和CMA認(rèn)可,以及美國A2LA認(rèn)可,是美國FCC注冊實驗室。