TEM測試_透射電鏡服務
作者：百檢網 時間：2021-12-06 來源：互聯網
TEM原理
透射電子顯微鏡（縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角 散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。
儀器技術參數
- TWIN物鏡系統, 點分辨率 0.27nm
- 樣品*大傾角 +/- 70°
- Cryo液氮冷凍樣品臺及冷凍轉移設備
- 全自動化的數據采集和數據處理系統
送樣要求
粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.
應用領域
金屬、非金屬及復合材料的觀察分析；
納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量統計；
微區成分的定性、定量計算，并對重點區域做元素分布圖；
可對固體材料的表面涂層、鍍層進行結合情況觀察和厚度測量；
機械設備、壓力容器、管道及汽車零件的失效分析。
適用標準
專業、高效、精準、高性價比是劑拓公司的服務宗旨。
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