作者:百檢網(wǎng) 時間:2022-06-15 來源:互聯(lián)網(wǎng)
覆層厚度測試項目和標(biāo)準(zhǔn) 百檢網(wǎng)材料檢測機構(gòu)提供覆層厚度測試服務(wù),國家高新技術(shù)企業(yè),第三方材料實驗室,CMA資質(zhì)認(rèn)證機構(gòu),為集體所有制科研機構(gòu),實驗室儀器齊全,科研團(tuán)隊強大,秉承科研、奉獻(xiàn)理念,從事性能測試、非標(biāo)檢測、未知物分析鑒定、工業(yè)問題診斷分析、成分檢測、失效分析,腐蝕分析等,7-15個工作日出具檢測報告,支持二維碼系統(tǒng)查詢真?zhèn)危珖嗉覍嶒炇曳种ВС秩珖祥T取樣/寄樣檢測服務(wù)。
測試周期:7-15個工作日
測試費用:免費初檢,初檢之后根據(jù)客戶檢測需求以及實驗復(fù)雜程度進(jìn)行報價。
覆層厚度測試范圍
含涂層的金屬基底、金屬或無機涂層、磁性金屬上的非磁性鍍層、可磁化金屬上的非磁化涂層、具有非磁性覆蓋層的磁性基體金屬、*多三層的金屬鍍層、鋼板上的金屬涂層等。
覆層厚度測試項目
測試標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)名稱
樣品要求
測試內(nèi)容
ASTM E376-11
用磁場或渦流(電磁)試驗方法測量涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
使用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)后再進(jìn)行測量
試樣的涂層厚度
ASTM B659-90(R2008)
金屬和無機涂層厚度測量的標(biāo)準(zhǔn)指南
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試樣的涂層厚度
ASTM B499-09(R2014)
用磁性法測量涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法:磁性金屬上的非磁性涂層
使用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)后再進(jìn)行測量
試樣的涂層厚度測量值
ISO 2178: 2016
磁性基底上的非磁性涂層 涂層厚度的測量 磁性法
使用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)后再進(jìn)行測量
試樣的涂層厚度、單獨測定的結(jié)果、算術(shù)平均值
GB/T 4956-2003
磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁性法
使用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)后再進(jìn)行測量
試樣的覆蓋層厚度
GB/T 4957-2003
非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測量 渦流法
使用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)后再進(jìn)行測量
試樣的覆蓋層厚度
GB/T 16921-2005
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法
根據(jù)所使用的儀器
試樣的測量位置、覆蓋層厚度、結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)偏差
ISO 3497: 2000
金屬鍍層 鍍層厚度的測量 X射線光譜測定法
根據(jù)所使用的儀器
測量區(qū)域、試樣的鍍層厚度
ASTM B568-98 (R2014)
用X射線光譜法測量涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
根據(jù)所使用的儀器
試樣的涂層厚度
ASTM A754/A754M-11 (R2016)
用X射線熒光法測定鋼上金屬涂層重量(質(zhì)量)的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
根據(jù)所使用的儀器
試樣的測量區(qū)域、涂層厚度
JIS H8501-1999
金屬覆層厚度試驗方法
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4、科研論文數(shù)據(jù)使用。
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