硅片測試項目和標(biāo)準(zhǔn)  百檢網(wǎng)材料檢測中心可提供硅片測試服務(wù)，為CMA資質(zhì)認(rèn)證機構(gòu)，高新技術(shù)企業(yè)，針對產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制中遇到的問題，提供成分檢測、產(chǎn)品檢測、產(chǎn)品檢測、儀器檢測等綜合解決方案，儀器齊全，科研團隊強大，7-15個工作日可出具檢測報告，支持掃碼查詢真?zhèn)?，全國上門取樣、寄樣檢測服務(wù)，檢測周期短、檢測費用低、檢測數(shù)據(jù)科學(xué)準(zhǔn)確!

　　測試周期：7-15個工作日
　　測試費用：工程師根據(jù)客戶檢測需求以及實驗復(fù)雜程度制定實驗方案進行報價。
　　硅片測試范圍
　　單晶硅片，太陽能硅片，光伏硅片，半導(dǎo)體硅片，切割硅片，鍍膜硅片，清洗硅片，拋光硅片等。
　　硅片測試項目
　　電阻率測試，翹曲度測試，厚度測試，表面粗糙度測試，燃燒測試，彎曲度測試，平整度測試，絨面反射率測試，碳氧含量檢測，壓電系數(shù)測試，ECV測試，負(fù)載測試，硬度測試，抗彎強度測試，晶圓測試，表面雜質(zhì)測試，表面有機物測試，少子壽命測試，顆粒度測試，表面接觸角測試等。(更多項目需求，您可咨詢在線實驗室工程師，為您詳細(xì)解答。)
　　百檢網(wǎng)測試報告有哪些作用?可以幫您解決哪些問題?
　　1、銷售使用。(銷售自己的產(chǎn)品，出具第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量)
　　2、研發(fā)使用。(研發(fā)過程中，遇到一些比較棘手的問題，通過檢測報告數(shù)據(jù)來解決問題，從而縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本)
　　3、改善產(chǎn)品質(zhì)量。(通過對比檢測數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)自身產(chǎn)品問題所在，提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低生產(chǎn)成本)
　　4、科研論文數(shù)據(jù)使用。
　　5、競標(biāo)，投標(biāo)使用(百檢網(wǎng)檢測周期比較短，檢測費用低，認(rèn)可度比較高，特別適合投標(biāo)使用)
　　硅片測試標(biāo)準(zhǔn)
　　GB/T 29055-2019 太陽能電池用多晶硅片
　　GB/T 26068-2018 硅片和硅錠載流子復(fù)合壽命的測試　非接觸微波反射光電導(dǎo)衰減法
　　GB/T 37051-2018 太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定方法
　　GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技術(shù)　基于SOI硅片的MEMS工藝規(guī)范
　　GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法
　　GB/T 32280-2015 硅片翹曲度測試自動非接觸掃描法
　　GB/T 32281-2015 太陽能級硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的測定　二次離子質(zhì)譜法
　　GB/T 30859-2014 太陽能電池用硅片翹曲度和波紋度測試方法
　　GB/T 30860-2014 太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法
　　GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化　測試方法
　　GB/T 30701-2014 表面化學(xué)分析　硅片工作標(biāo)準(zhǔn)樣品表面元素的化學(xué)收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定
　　GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法
　　GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測試　自動非接觸掃描法
　　GB/T 6616-2009 半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法　非接觸渦流法
　　GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定　擴展電阻探針法
　　GB/T 6618-2009 硅片厚度和總厚度變化測試方法
　　GB/T 6619-2009 硅片彎曲度測試方法
　　以上【硅片測試項目和標(biāo)準(zhǔn)】文章內(nèi)容為部分列舉，更多檢測需求及詳情免費咨詢機構(gòu)在線顧問：15201733840(電話及微信)，做檢測上百檢網(wǎng)-出具權(quán)威檢測報告具有法律效力。